Flat Panel Detector の DQE(u)測定 |
無線タイプのカセッテサイズのFPD(Flat Panel Detector)を使用する機会があり、NEQ(u)を測定しました。(その結果)
今回は、さらにDQE(u)を求めてみました。対象としたFPDのシンチレータの素材が、ガドリニウムオキサイドサルファ(GoS)とヨウ化セシウム(CsI)の2機種(同一メーカー製)です。以下、前者をGOS、後者をCSIと呼びます。
DQE(u)を求めるには、FPD受光面位置での入射X線フォトン数が必要となります。今回は、自作ソフトにより、X線スペクトルをシミュレーションし、計算により求めました。(そのソフト)
X線スペクトルのシミュレーション |
|
|
|
|
今回用いた線質、線量から、自作ソフトにてX線スペクトルを計算した結果です。 左上のグラフは、”固有フィルタ透過後”のX線スペクトルです。縦軸は、フォトン数の相対値で、単位は[ % ]です。 左下のグラフは、”固有フィルタおよび付加フィルタ透過後”のFPD受光面位置でのX線スペクトルです。縦軸は、フォトン数で、単位は[ mm^-2 ]です。 |
|
|
DQE(u) |
|
|
DQE(u)は、左の式にて求めました。 γ : ウィナースペクトルを求めたピクセル値でのグラディエント MTF : 変調伝達関数 W : ウィナースペクトル q : ウィナースペクトル試料撮影時FPD受光面位置でのX線フォトン数 今回用いた線質、線量から求めたFPD受光面位置でのX線フォトン数”q”は、 q = 249674.1 [ mm^-2 ] となりました。 . |
|
【 X方向の比較 】 DQE(u)といっても、CSIとGOSの相対的な違いは、NEQ(u)と同様です。 縦軸のスケールが異なるだけですが、画質に反映するX線の利用効率を判断できます。 |
|
【 Y方向の比較 】 |
メ モ |
|
|
以上